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    X射線鍍層測厚儀應用及物理意義
    點擊次數:1208 更新時間:2017-04-24
     X射線鍍層測厚儀有著快速,準確,非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量,從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。
     
    X射線鍍層測厚儀X射線熒光的物理意義:
    X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波,其特性通常用能量(單位:千電子伏特,keV)和波長(單位:鈉米,nm)描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉,它們按不同的能量分布在不同的電子殼層:分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
    當具有高能量的入射(一次)X射線與原子發生碰撞時,會打破原子結構的穩定性。處于低能量電子殼層(如:K層)的電子更容易被激發而從原子中逐放出來,電子的逐放會導致該電子殼層出現相應的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。儀器通過探測不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性,進行分析計算得到各鍍層厚度,這一個過程就是我們所說的X射線鍍層測厚儀
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