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    分析X-RAY鍍層測厚儀的工作原理及特點
    點擊次數:4719 更新時間:2019-04-10
      X-RAY鍍層測厚儀是一種多功能實用型便攜式測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現場。通過使用不同的測頭,還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業*的儀器。
     
      X-RAY鍍層測厚儀的工作原理:
     
      鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
     
      X-RAY鍍層測厚儀主要特點:
     
      1、M4 TORNADO采用了全新的技術,為各種用戶提供了蕞佳的分析性能和非常方便的操控性。
     
      2、采用多導毛細管聚焦鏡,照射光斑蕞小,空間分辨率蕞高。
     
      3、采用無標樣分析法定量分析塊狀樣品,分析多層膜樣品。
     


    X-RAY鍍層測厚儀

      4、使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜,另外,使用多個探測器可以進一步提高測量速度。
     
      5、渦輪增速X-Y-Z樣品臺,借助放大倍數可變的攝像系統獲得高品質的樣品影像,可在“飛行中”進行元素分布分析。
     
      6、高強度的X射線光管與多導毛細管聚焦鏡相結合,確保在非常小的照射區域內獲得非常高的激發強度。采用濾光片和可以同時使用的配有不同靶材的雙光管,可以根據不同的分析要求,優化激發光譜。
     
      7、可抽真空的樣品室配有自動門,大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個放大倍數可變的攝像系統觀察樣品,便捷進樣功能和自動對焦功能可以進行快速而的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺運行程序可實現重復測量。
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