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    X射線鍍層測厚儀的三大詳細介紹
    點擊次數:1582 更新時間:2013-12-04


    一,X射線鍍層測厚儀 是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。  
    系列分為以下三種:  

    1. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。  
    2. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。  
    3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 。


    二,X射線鍍層測厚儀,在技術上一直以來都于*的測厚行業
    A :可測量任一測量點,zui小可達0.025 x 0.051毫米

    B:  CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
    (銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多5層、15 種元素。
    C: :度于世界,到0。025um  (相對與標準片)
    D:MI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
    E::數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求 ;
    如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
    F::統計功能提供數據平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。


    三,X射線鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能*,而且價錢*
    同比其他牌子相同配置的機器,XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
    甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺,
    可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的。

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