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    韓國XRF-2000X射線測厚儀規格
    點擊次數:2054 更新時間:2014-11-17

    XRF-2000電鍍層測厚儀規格及技術指標

     

    韓國MICRO PIONEER公司 XRF-2000H鍍層測厚儀

    儀器產商 : MICRO PIONEER

    原產地 : 韓國

     

    器功能 : 測量電鍍層厚度

    檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

    可測單層,雙層,多層,合金鍍層,

    測量范圍:0.04-35um

    測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度

    全自動臺面,自動雷射對焦,操作非常方便簡單 

    系統結構 :

    箱,用分析電腦,液晶顯示屏,色打印

    尺寸

    610 x 670 x 600 mm(訂制加高型主機箱高度超過600mm)

    箱重 : 約75 公斤

    配件重量 : 約 35 公斤

    樣品臺承重:5KG

    以滑鼠移方式,驅動 XYZ 三,步進馬達

    XYZ 片臺移動尺寸

    200 x 150 x 100 mm

    準直一個可選0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm

    件包括 視察軟件,

    系統軟件包括,測量,統計 

    系統功能

    測單層,雙層或多層或合金層電鍍厚度

    標準規格

    自動雷射對焦,XYZ全自XYZ片臺,自動調整檔案功能,電鍍藥液測量.元素配.

    主機箱:

    輸入電壓力:AC220V± 10% 50/60HZ

    溝通方法:RS-232C

    溫度控制:前置放大及機箱溫度控制

    對焦:雷射對焦

    安全裝置:如測量中機箱門打開,X射線0.5秒內自動關閉

    表面泄漏:少于1usv

    多通道分析

    通道數量:1024ch

    脈沖處理:微電腦高速處理器

    X射線源

    X射線管:油冷

    高壓:0-50KV(程控)

    管電流0-1mA(程控)

    目標杷:W靶

    校正及應用:單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,標準樣品再校正

    2D,3D隨機位置測量

    2D:均距表面測量

    3D:表面排列處理測量

    隨機位置:任意設定測量點

    檢測器:正比計數器

    檢測器濾片:CO或Ni(選項)

    X-Y-Z三軸樣品臺

    操作模式:高速精密馬達,可控制加減速度

    2D,3D隨機定位,鼠標定定,樣品臺視窗控制,程控定位

    機箱門打開關閉Y軸自動感應

    統計功能:打印報告可顯示zui大/zui小值,位移,平均值,標準差,測量位置圖片顯示及Bar圖表等

    多種測量報表模式可選(可插入公司標志及客戶名稱)

    定性分析:

    原素頻譜顯示,ROI距離定性分析,標簽圖案顯示

    指標顯示:顯示原素及測量數值,顯示ROI彩色圖

    放大功能:局部放大,平均功能:柔和顯法頻譜

    視窗大小:無級別式視窗大小.

     


    檢測電子及五金電鍍,化學電鍍層厚度

    主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等

    韓國先鋒X射線鍍層測厚儀

    全自動臺面
    自動雷射對焦
    多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品)
    測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)

    特別訂制可測20cm以內高度產品
    鍍層厚度測試范圍:0.03-35um

    可測試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度
    測量時間:10-30秒
    精度控制:
          *層:±5%以內
          第二層:±8%以內
          第三層:±12%以內

    韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀

     

    XRF-2000鍍層測厚儀共分三種型號

    不同型號各種功能一樣

    機箱容納樣品大小有以下不同要求

    XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹

    XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm

    XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm

    XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設計,可檢測大型樣品

    檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

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