X射線鍍層測厚儀即放即測,方便耐用
點擊次數:1143 更新時間:2015-12-05
X射線鍍層測厚儀特點
即放即測!
通過自動定位功能,放置樣品后僅需幾秒,便能自動對準觀察樣品焦點。
10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量!
以*的設計實現微小區域下的高靈敏度,即使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。
無標樣測量!
將薄膜FP軟件進一步擴充,即使沒有厚度標準物質也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。
通過廣域觀察系統更方便選擇測量位置!
通過廣域觀察系統,能夠從畫面上的樣品整體圖(zui大250×200mm)中方便地測量位置。
對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理,可保證產品的功能及品質,降低成本。精工從1971年推出非接觸、短時間內可進行高精度測量的X射線鍍層測厚儀以來,已經累計銷售6000多臺,得到了國內外鍍層厚度、金屬薄膜測量領域的高度關注和支持。
為了適應日益提高的鍍層厚度測量需求,精工開發了配備有自動定位功能的XX射線鍍層測厚儀。通過自動定位功能,僅需把樣品放置到樣品臺上,就可在數秒內對樣品進行自動對焦。由此,無需進行以往的手動逐次對焦的操作,大大提高了樣品測量的操作性。
近年來,隨著檢測零件的微小化,對微區的高精度測量的需求日益增多。X射線鍍層測厚儀實現微區下的高靈敏度,即使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且,配備有新開發的薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量,可對應更廣泛的應用需求。