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聯系我們X射線鍍層測厚儀特長說明
點擊次數：1114 更新時間：2016-06-23
X射線鍍層測厚儀通過新薄膜FP法提高測量精度
X射線鍍層測厚儀實現微小光束的高靈敏度，通過微小準直器提高了膜厚測量精度。鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2。另外，針對檢測器的特性開發了新的EP法，X射線鍍層測厚儀可進行無標樣測量。測量結果可一鍵生成報告書，簡單方便。
新薄膜EP法
減少檢量線制作的繁瑣程度、實現了設定測量條件的簡易化；
無標樣測量方法可進行zui多5層的膜厚測量；
自動對焦功能和距離修正功能
凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進行測量；
靈敏度提高
鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2；
生成報告功能
一鍵生成測量報告書；
廣域樣品觀察
X射線鍍層測厚儀對測量平臺（250mm*200mm）上放置的樣品拍攝一張靜態畫面后，可在獲取的廣域觀察圖像上狹域的觀察位置。由此，可大幅減少多數測量點位置的選取時間，以及在圖像上難以尋找的特定點位置的選定時間。
廣域圖像觀察 輕松定位；
自動對焦功能 自動接近功能
在X射線鍍層測厚儀樣品臺上放置各種高度的樣品時，只要高低差在80mm范圍內，即可在3秒內自動對焦被測樣品。由此進一步提高定位操作的便捷性。
自動對焦功能 簡便的攝像頭對焦；
自動接近功能 位置的對焦。
