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    X射線鍍層測厚儀特長說明
    點擊次數:1114 更新時間:2016-06-23
    X射線鍍層測厚儀通過新薄膜FP法提高測量精度
    X射線鍍層測厚儀實現微小光束的高靈敏度,通過微小準直器提高了膜厚測量精度。鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2。另外,針對檢測器的特性開發了新的EP法,X射線鍍層測厚儀可進行無標樣測量。測量結果可一鍵生成報告書,簡單方便。
    新薄膜EP法    
        減少檢量線制作的繁瑣程度、實現了設定測量條件的簡易化;
        無標樣測量方法可進行zui多5層的膜厚測量;
    自動對焦功能和距離修正功能    
        凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進行測量;
    靈敏度提高
        鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2;
    生成報告功能
        一鍵生成測量報告書;
     
    廣域樣品觀察
    X射線鍍層測厚儀對測量平臺(250mm*200mm)上放置的樣品拍攝一張靜態畫面后,可在獲取的廣域觀察圖像上狹域的觀察位置。由此,可大幅減少多數測量點位置的選取時間,以及在圖像上難以尋找的特定點位置的選定時間。
    廣域圖像觀察    輕松定位;
     
    自動對焦功能 自動接近功能
    X射線鍍層測厚儀樣品臺上放置各種高度的樣品時,只要高低差在80mm范圍內,即可在3秒內自動對焦被測樣品。由此進一步提高定位操作的便捷性。
    自動對焦功能    簡便的攝像頭對焦;
    自動接近功能    位置的對焦。
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