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    型XRF-2000測厚儀系統分析
    點擊次數:1169 更新時間:2016-07-08
    XRF-2000測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能*,而且價錢*,同比其他牌子相同配置的機器,XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的。可測量各類金屬層、合金層厚度等。 
     
    XRF-2000測厚儀可以同時測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成分,測量厚度可以從埃(&Aring;)至微米(μm),它也能測量多至20個元素的塊狀合金成分。其準確度、精密度和穩定性是*的。 
    世界*光學準直器,光束zui少可達0.025mm;集中X-射線光束,強度加強5-8倍;適合較薄鍍層測量,測量時間為正常的1/5;配有ZOOM功能,圖象可放大至zui高200倍;更新FP方法,適合多層厚度測量。 
      ZXR/LXR系統:用于小樣品的經濟型。機械準直器,氣體正比探測器。 
      GXR系統:斑點小,樣品量大。GXR能測量小至25μm的Sn、Pd和AG層及小至35μm的Au和Ni層。應用于微電子器件、數據偶合器、光通訊和數據貯存等。 
      VXR系統:真空測量環境(真空導管技術),增加靈敏度和測定范圍(Al-U)。VXR利用真空技術和的焦耳—湯母遜制冷半導體探測器(140eV,FWHM)。 
      MXR系統:高性能、高精密、高分辨。利用光學準直器透過元件發出*的40μm光束,將得到100—1000倍于相同大小光束的機械準直器X-射線熒光的精度。電制冷半導體探測器提供增強的靈敏度和分辨率(220eV,FWHM)。用于半導體、光通訊、微電子、光子學、無源器件和薄層磁頭金屬化分析。 
     
    XRF-2000測厚儀的特征: 
      1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。 
      2.可通過CCD攝像機來觀察及選擇微小面積以進行鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。 
      3.備有250個以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。 
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