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    產(chǎn)品名稱:Micro Pioneer XRF2000鍍層測(cè)厚儀

    產(chǎn)品型號(hào):

    產(chǎn)品報(bào)價(jià):

    產(chǎn)品特點(diǎn):Micro Pioneer XRF2000鍍層測(cè)厚儀
    應(yīng)用于檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,端子,LED支架,電子元器件等電鍍層厚度
    測(cè)量鍍種為:鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等
    可測(cè)單層、雙層、多層、合金鍍層測(cè)量,不限底料。

    Micro Pioneer XRF2000鍍層測(cè)厚儀的詳細(xì)資料:

    XRF2000鍍層測(cè)厚儀

    應(yīng)用于檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,端子,LED支架,電子元器件等電鍍層厚度

    測(cè)量鍍種為:鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等

    可測(cè)單層、雙層、多層、合金鍍層測(cè)量,不限底料。

     

    XRF-2000金屬鍍層測(cè)厚儀

    原產(chǎn)地:韓國(guó)

    品牌:Micro pioneer 微先鋒

    系列型號(hào):XRF-2020H,XRF-2020L,XRF-2020PCB

     

    以下為韓國(guó)XRF-2000:X-RAY膜厚儀檢測(cè)范圍

    Au  0.03-4um

    Pd  0.03-4um

    Ni  0.05-25um

    Ni-P 0.05-25um

    Sn 0.05-80um

    Ag  0.03-30um

    Cr  0.05-25um

    Zn  0.05-25um

    ZnNi 0.05-25um

    SnCu 0.05-25um

     

    XRF-2000設(shè)備功能描述

    兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

    使用X熒光射線非接觸非破壞快速測(cè)量厚層

    各種樣品單層至多層(5層),合金膜層均可測(cè)量

    定點(diǎn)自動(dòng)定位分析

    光徑對(duì)準(zhǔn)全自動(dòng)

    影像重疊功能

    自動(dòng)顯示測(cè)量參數(shù)

    彩色區(qū)別測(cè)量數(shù)據(jù)

    多重統(tǒng)計(jì)顯示視窗與報(bào)告編輯應(yīng)用2D/3D,任意位置測(cè)量控制Y軸全自動(dòng)控制雷射對(duì)焦與自動(dòng)定位系統(tǒng)

    多種機(jī)型選擇X-ray運(yùn)行待命(睡眠)控制溫控穩(wěn)定延長(zhǎng)校準(zhǔn)時(shí)效全進(jìn)口美日系零件價(jià)格優(yōu)勢(shì)及快速的服務(wù)時(shí)效

     

    XRF-2000金屬鍍層測(cè)厚儀?精度控制

    表層:±5%

    第二層:±8%

    第三層:±15%

     

    XRF-2000金屬鍍層測(cè)厚儀? 系列

    測(cè)量鍍種為:鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等

    測(cè)量的厚度范圍為0.03微米~35微米。

    可測(cè)單層、雙層、多層、合金鍍層測(cè)量,不限底料。

     

     

    XRF2000

    檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
    可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層,
    測(cè)量范圍:0.04-35um
    測(cè)量精度:±5%,測(cè)量時(shí)間只需30秒便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
    全自動(dòng)臺(tái)面,操作非常方便簡(jiǎn)單

    XRF2000鍍層測(cè)厚儀,提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能*,而且價(jià)錢*
    同比其他牌子相同配置的機(jī)器,XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果
    甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整。超大/開放式的樣品臺(tái),
    可測(cè)量較大的產(chǎn)品。可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度等。

     

    Micro Pioneer XRF2000鍍層測(cè)厚儀
    可測(cè)元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U)  原子序 22 – 92
    準(zhǔn)直器:固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
    自動(dòng)種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
    綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統(tǒng)計(jì)功能

    Micro Pioneer XRF2000鍍層測(cè)厚儀

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