該技術已經被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品破壞的情況下提供易于操作

快速和無損的分析。

XRF-2020兩款型號并且具有不同大小的樣品艙。

產品功能：

采用X射線熒光測量金屬鍍層、覆蓋層厚度

鍍層元素測量范圍：鈦～鈾

包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鋅鎳合金等。

測量鍍層層數：多至5層。

XRF-2020標配：0.2mm準直器 測量樣品位置直徑大于0.4mm

測量時間：通常15秒。

XRF-2020H型 樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。

XRF-2020L型 樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。

測量誤差：正負5%

可測厚度范圍：通常0.03微米到35微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

能同時定量測量5種鍍層厚度。

探測器 高分辨氣體正比計數探測器全自動X-Y-Z樣品臺

XRF-2020鍍層測厚儀測試報告

測試報告內容：

測試產品的編號；

測試產品的準確標識；

測量日期

測試樣品測量位置

報告的測量次數

測量產品大小值

平均值

標明準直器孔徑和測量面積大??；

用于XRF-2020測厚儀的密度值及使用理由；

報告的測量值具有代表性的標準偏差；

與本標準方法的差別: