韓國Micropioneer 膜厚儀校正片XRF-2020測厚儀標準片

應用于測厚儀校正及應用程序添加

XRF-2000測厚儀標準片：金,鎳,銅,鋅,鉻,錫,銀,鋅鎳合金等

各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀

標準片均附帶證書

標準片X射線鍍層測厚儀校正片（通用型）

適合各種X射線鍍層測厚儀

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。

XRF-2000測厚儀標準片

如下圖所示

測厚儀標準片韓國XRF膜厚儀校正片

標準片所有X射線測厚儀通用

銅，鎳，鋅，鉻，金，錫，銀，鋅鎳合金:各種規格厚度標準片均有

提供金,鎳,銅,鋅,鉻,錫,銀,鋅鎳合金等標準片

各種規格及厚度范圍勻可訂制。

膜厚儀校正片XRF-2020測厚儀標準片適應不同品牌鍍層測厚儀，標準片通用！